MOS集積回路の設計・製造と信頼性技術 [単行本]

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MOS集積回路の設計・製造と信頼性技術 [単行本]

大山 英典(共著)中林 正和(共著)葉山 清輝(共著)江口 啓(共著)
価格:¥3,080(税込)
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出版社:森北出版
販売開始日: 2008/04/09
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MOS集積回路の設計・製造と信頼性技術 [単行本] の 商品概要

  • 要旨(「BOOK」データベースより)

    設計、製造、信頼性MOSに必要な三つの技術を詳しく解説。FDMを活用する半導体に係わる全ての人に!第一線技術者の声も多く取り入れた、実用的な一冊。
  • 目次(「BOOK」データベースより)

    第1章 集積回路の現状と課題(半導体市場と技術動向
    設計と信頼性技術の現状 ほか)
    第2章 集積回路の基礎(半導体の種類
    Si半導体 ほか)
    第3章 MOS集積回路の構成と設計技術(ディジタル回路
    アナログ回路 ほか)
    第4章 MOS集積回路の製造技術(製造環境
    洗浄技術 ほか)
    第5章 MOS集積回路の信頼性技術(半導体デバイスの信頼性
    半導体デバイスの信頼性評価 ほか)
  • 著者紹介(「BOOK著者紹介情報」より)(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)

    大山 英典(オオヤマ ヒデノリ)
    1982年豊橋技術科学大学修士課程修了。1991年熊本電波高専助教授、工学博士。1992年文部科学省(旧文部省)長期在外研究員(IMEC、ベルギー)。1993年IMEC客員研究員。2000年熊本電波高専教授。専門分野は半導体デバイスの放射線損傷機構

    中林 正和(ナカバヤシ マサカズ)
    1980年大阪府立大学修士課程修了。1980年三菱電機(株)入社。2002年熊本大学大学院自然科学研究科博士課程修了、博士(工学)。2003年(株)ルネサステクノロジ。専門分野は半導体の信頼性、パワーデバイスのライフタイム制御

    葉山 清輝(ハヤマ キヨテル)
    1991年豊橋技術科学大学修士課程修了。1992年豊橋技術科学大学技術開発センター助手。1997年博士(工学)。2000年熊本電波高専助教授。2003年文部科学省長期在外研究員(IMEC、ベルギー)。2007年熊本電波高専准教授。専門分野は半導体デバイスの放射線損傷機構

    江口 啓(エグチ ケイ)
    1999年熊本大学大学院自然科学研究科博士課程修了、博士(工学)。1999年熊本電波高専講師。2001年熊本電波高専助教授。2006年静岡大学助教授。2007年静岡大学准教授。専門分野は回路システム

MOS集積回路の設計・製造と信頼性技術 [単行本] の商品スペック

商品仕様
出版社名:森北出版
著者名:大山 英典(共著)/中林 正和(共著)/葉山 清輝(共著)/江口 啓(共著)
発行年月日:2008/04/04
ISBN-10:4627773811
ISBN-13:9784627773813
判型:A5
対象:専門
発行形態:単行本
内容:電子通信
ページ数:189ページ
縦:22cm
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