高分子分析技術最前線(高分子先端材料One Point〈別巻〉) [全集叢書]

高分子分析技術最前線(高分子先端材料One Point〈別巻〉) の 商品概要

• 目次

  第I部　微小構造の顕微鏡観察
  第1章　三次元透過型電子顕微鏡―ネットワークナノ構造の三次元可視化―
  
  第2章　走査フォース顕微鏡―表面ナノ構造と物性をみる手法―
  
  第3章　表面プラズモン共鳴分光法および顕微鏡―局所場による高感度光計測―
  
  第4章　近接場光学顕微鏡―光でみるナノの世界―
  
  第5章　共焦点レーザー顕微鏡―光学顕微鏡による三次元構造観察―
  
  第II部　微小構造の間接的観察
  第1章　放射光を用いた観察法―微細・微小・迅速・in situ 測定を目指して―
  
  第2章　中性子小角散乱法―生きたままをみる分析技術―
  
  第3章　陽電子消滅法―自由体積空孔サイズの測定―
  
  第III部　分子構造の解析
  第1章　固体NMR―固体でここまでわかる精密測定―
  
  第2章　TOF-SIMS―サブミクロン領域からの分子構造情報―
  
  第3章　MALDI-MS/MS―質量測定を越えた微細化学構造解析―
  
  第4章　赤外円二色性スペクトル―紫外・可視発色団を必要としない新しいキラル分析法―

• 出版社からのコメント

  よく使われる新しい機器と12の手法を解説

• 内容紹介

  新しい材料は、新しい技術や分析法を要求します。ナノテクノロジー・ナノサイエンスの著しい発展は、物質の構造や性質を原子・分子レベルで解明・理解する分析技術の急速な展開をもたらしており、高分子材料の設計、評価や作製、加工においても先端の分析技術が要求されています。走査プローブ顕微鏡、三次元透過型電子顕微鏡や共焦点レーザー顕微鏡、表面プラズモン顕微鏡などの多様な顕微鏡分析法、MALDI-MS/MSやTOF-SIMSなどの化学分析法、放射光や中性子小角散乱法など、21世紀初頭にかけて急速に展開した分析技術を中心に高分子分析の最前線を紹介します。

高分子分析技術最前線(高分子先端材料One Point〈別巻〉) の商品スペック