故障解析技術(信頼性技術叢書) [単行本]

故障解析技術(信頼性技術叢書) [単行本] の 商品概要

• 要旨(「BOOK」データベースより）

  故障解析は、信頼性の作り込みにも、起きてしまった故障・事故の再発防止にも重要な役割を担っています。本書は、故障解析の基本的な考え方や、様々な故障解析技術が実務でどのように用いられているのかを豊富な事例により詳しく解説しています。

• 目次(「BOOK」データベースより）

  第１章　序論
  第２章　故障解析とは（故障解析と医療・探偵
  故障解析の定義　ほか）
  第３章　故障解析の手順
  第４章　故障解析技術概論（前処理／加工法
  光を利用した解析技術　ほか）
  第５章　故障解析事例（装置関連の故障解析事例
  受動部品の故障解析事例　ほか）

• 著者紹介（「BOOK著者紹介情報」より）（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）

  二川 清(ニカワ キヨシ)
  １９４９年生まれ。大阪大学大学院修士課程修了。工学博士。現在、ＮＥＣエレクトロニクス株式会社シニアプロフェッショナル。信頼性技術功労賞（ＩＥＥＥ信頼性部門日本支部）、推奨報文賞、奨励報文賞（ともに日科技連信頼性・保全性シンポジウム）、論文賞（レーザ学会）

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