図解入門よくわかる最新非破壊検査の基本と仕組み(How-nual Visual Guide Book) [単行本]

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図解入門よくわかる最新非破壊検査の基本と仕組み(How-nual Visual Guide Book) [単行本]

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出版社:秀和システム
販売開始日: 2010/10/30
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図解入門よくわかる最新非破壊検査の基本と仕組み(How-nual Visual Guide Book) の 商品概要

  • 要旨(「BOOK」データベースより)

    安全性と品質を支える非破壊検査法を完全解説。わかりやすくビジュアルに解説。
  • 目次(「BOOK」データベースより)

    非破壊検査の必要性
    非破壊検査で見付けるべき欠陥とその特徴
    機械、構造物などの健全性保証
    代表的な非破壊検査とその特徴
    目視試験(VT)
    浸透探傷試験(PT)
    磁粉探傷試験(MT)
    渦電流探傷試験(ET)
    放射線透過試験(RT)
    超音波探傷試験(UT)〔ほか〕
  • 著者紹介(「BOOK著者紹介情報」より)(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)

    水谷 義弘(ミズタニ ヨシヒロ)
    1973年神奈川県横浜市生まれ。2001年青山学院大学理工学研究科博士後期課程修了。博士(工学)取得。青山学院大学理工学部機械創造工学科助手。2002年宇宙開発事業団技術研究本部宇宙開発特別研究員。2003年東京工業大学大学院理工学研究科特任助教授。2007年東京工業大学大学院理工学研究科准教授。2009年オランダデルフト工科大学航空宇宙学科客員研究員

図解入門よくわかる最新非破壊検査の基本と仕組み(How-nual Visual Guide Book) の商品スペック

商品仕様
出版社名:秀和システム
著者名:水谷 義弘(著)
発行年月日:2010/11/06
ISBN-10:4798027847
ISBN-13:9784798027845
判型:A5
対象:専門
発行形態:単行本
内容:機械
ページ数:271ページ
縦:21cm
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