半導体衰退の原因と生き残りの鍵(B&Tブックス) [単行本]
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半導体衰退の原因と生き残りの鍵(B&Tブックス) [単行本]
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半導体衰退の原因と生き残りの鍵(B&Tブックス) [単行本]

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出版社：日刊工業新聞
販売開始日： 2012/09/26
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半導体衰退の原因と生き残りの鍵(B&Tブックス) の 商品概要

  • 目次(「BOOK」データベースより）

    第１章　変化した半導体の事業環境
    第２章　ＳＯＣのビジネスモデル
    第３章　ＡＳＩＣとＡＳＳＰ
    第４章　ＳＯＣとＥＤＡツールの歴史
    第５章　ＳＯＣの生き残り策
    第６章　ＳＯＣの設計
    第７章　まとめ

  • 著者紹介（「BOOK著者紹介情報」より）（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）

    佐野 昌(サノ ショウ)
    １９５３年愛知県生まれ。１９７７年、東京大学理学部物理学科修士課程修了。１９８３年、プリンストン大学エレクトリカルエンジニアリングコンピュータサイエンス学科修士課程修了。１９７７年日立製作所入社。半導体部門にてメモリとマイコンの設計および事業企画に従事。ルネサステクノロジ、半導体理工学研究センター、ルネサスエレクトロニクスを経て、グレイセル・コンサルティングを設立。現在、（株）古賀総研勤務

半導体衰退の原因と生き残りの鍵(B&Tブックス) の商品スペック

商品仕様
出版社名：日刊工業新聞社
著者名：佐野 昌（著）
発行年月日：2012/09/27
ISBN-10：4526069493
ISBN-13：9784526069499
判型：A5
対象：専門
発行形態：単行本
内容：経営
ページ数：223ページ
縦：21cm
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