はじめてのデバイス評価技術 第2版 [単行本]

はじめてのデバイス評価技術 第2版 [単行本] の 商品概要

• 要旨(「BOOK」データベースより）

  半導体デバイス評価を学ぶならこの一冊で十分。評価フェーズごとの詳細な解説！知りたい情報が詰まってる。

• 目次(「BOOK」データベースより）

  第１章　半導体デバイスの特徴
  第２章　デバイス評価技術概要
  第３章　信頼性試験
  第４章　故障解析
  第５章　寿命データ解析
  第６章　具体例・応用事例

• 著者紹介（「BOOK著者紹介情報」より）（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）

  二川 清(ニカワ キヨシ)
  １９７４年大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。日本電気株式会社（ＮＥＣ）入社（～２００９年）。１９９０年デバイス評価技術研究所主管研究員など歴任。２００７年金沢工業大学大学院客員教授（～現在）。２０１０年大阪大学大学院特任教授（～２０１２年）

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