電子線ナノイメージング―高分解能TEMとSTEMによる可視化(材料学シリーズ) [単行本]
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出版社：内田老鶴圃
販売開始日： 2009/04/17
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電子線ナノイメージング―高分解能TEMとSTEMによる可視化(材料学シリーズ) の 商品概要

  • 目次(「BOOK」データベースより）

    第１部　ナノの世界と透過電子顕微鏡法（ナノの世界を見る
    透過電子顕微鏡の構造と結像
    透過電子顕微鏡の分解能と像コントラスト　ほか）
    第２部　原子直視を可能とする走査透過電子顕微鏡法（走査透過電子顕微鏡法とは何か
    走査透過電子顕微鏡の結像
    走査透過電子顕微鏡法の応用例　ほか）
    補遺（フーリエ変換入門―イメージングの数学的基礎
    凸レンズによる結像作用―凸レンズは位相変調器
    電子顕微鏡のレンズ伝達関数―位相コントラストを理解する鍵　ほか）

  • 著者紹介（「BOOK著者紹介情報」より）（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）

    田中 信夫(タナカ ノブオ)
    １９４９年名古屋に生まれる。１９７８年名古屋大学大学院工学研究科博士課程修了。１９７８年日本学術振興会奨励研究員。１９７９年豊田理化学研究所研究員。１９７９年名古屋大学工学部助手。１９８３年米国アリゾナ州立大学理学部研究員。１９９０年名古屋大学工学部応用物理学科助教授。１９９９年同教授。２００２年名古屋大学理工科学総合研究センター教授。２００６年名古屋大学エコトピア科学研究所教授。現在にいたる。工学博士

電子線ナノイメージング―高分解能TEMとSTEMによる可視化(材料学シリーズ) の商品スペック

商品仕様
出版社名：内田老鶴圃
著者名：田中 信夫（著）
発行年月日：2009/04/25
ISBN-10：4753656365
ISBN-13：9784753656363
判型：A5
対象：専門
発行形態：単行本
内容：物理学
ページ数：247ページ
縦：21cm
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