LSIの信頼性(信頼性技術叢書) [単行本]
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LSIの信頼性(信頼性技術叢書) [単行本]

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出版社:日科技連出版社
販売開始日: 2010/10/27
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LSIの信頼性(信頼性技術叢書) [単行本] の 商品概要

  • 目次(「BOOK」データベースより)

    第1章 LSI信頼性保証概論
    第2章 トランジスタ系の信頼性
    第3章 LSI配線の信頼性
    第4章 静電気破壊現象
    第5章 故障解析
    第6章 寿命データ解析
  • 著者紹介(「BOOK著者紹介情報」より)(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)

    二川 清(ニカワ キヨシ)
    1949年大阪市生まれ。大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。工学博士。1974年‐2009年、日本電気(株)他にて半導体の信頼性・故障解析技術の研究開発と実務に従事。現在、大阪大学大学院情報科学研究科特任教授、金沢工業大学大学院工学研究科客員教授、芝浦工業大学工学部非常勤講師

    塩野 登(シオノ ノボル)
    1947年生まれ。東北大学大学院工学研究科修士課程修了、工学博士。NTT LSI研究所を経て、現在、(財)日本電子部品信頼性センター理事、日本大学大学院理工学研究科電子工学専攻非常勤講師

    横川 慎二(ヨコガワ シンジ)
    1970年生まれ。電気通信大学大学院修士課程修了。博士(工学)。現在、ルネサスエレクトロニクス(株)、デバイス・解析技術統括部先端デバイス開発第二部チームマネージャー。日本信頼性学会2003年高木賞、IEEE Reliability Society Japan Chapter Awards 2007年論文賞、日本信頼性学会第22回秋季信頼性シンポジウム優秀賞など

    福田 保裕(フクダ ヤスヒロ)
    1953年大阪市生まれ。1977年、名古屋工業大学電気工学科卒業、沖電気工業(株)入社、半導体事業部生産技術、メモリ設計、信頼性技術を経て、研究本部プロセス研究部長。2005年、沖エンジニアリング(株)へ信頼性設計事業部長として転籍。2010年サムスン電子LCD事業部へ入社。主な静電気破壊研究活動は、1983年半導体デバイスの静電気破壊、パッケージ帯電モデル、試験方法の提案

    三井 泰裕(ミツイ ヤスヒロ)
    1944年生まれ。山梨大学大学院工学研究科修士課程修了。工学博士。(株)日立製作所中央研究所、同半導体事業部、(株)日立ハイテクノロジーズにて計測技術研究開発に従事後、現在、半導体デバイス解析コンサルタント。日刊工業新聞十大新製品賞

LSIの信頼性(信頼性技術叢書) [単行本] の商品スペック

商品仕様
出版社名:日科技連出版社
著者名:信頼性技術叢書編集委員会(監修)/二川 清(編著)/塩野 登(著)/横川 慎二(著)/福田 保裕(著)/三井 泰裕(著)
発行年月日:2010/10/28
ISBN-10:4817193638
ISBN-13:9784817193636
判型:A5
対象:専門
発行形態:単行本
内容:工学・工業総記
ページ数:183ページ
縦:21cm
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