土壌環境中の有害元素の挙動―放射光源X線吸収分光法による分子スケールスペシエーション [単行本]

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土壌環境中の有害元素の挙動―放射光源X線吸収分光法による分子スケールスペシエーション [単行本]

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出版社:博友社
販売開始日: 2012/11/10
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土壌環境中の有害元素の挙動―放射光源X線吸収分光法による分子スケールスペシエーション の 商品概要

  • 目次(「BOOK」データベースより)

    1 土壌元素の分析ツールとしてのシンクロトロン放射光源X線分光法―特徴・測定方法、将来展望
    2 水田土壌の酸化還元過程におけるヒ素と鉄の動態をXAFS法で探る
    3 XANESとHPLC‐ICP‐MSを用いた水‐土壌系でのヨウ素の挙動解析
    4 XAFS法を駆使した土壌中の有害元素の挙動解明
    5 射撃場汚染土壌に含まれる鉛の不溶化とXAFSによる化学状態分析

土壌環境中の有害元素の挙動―放射光源X線吸収分光法による分子スケールスペシエーション の商品スペック

商品仕様
出版社名:博友社
著者名:日本土壌肥料学会(編)
発行年月日:2012/11/10
ISBN-10:4826802218
ISBN-13:9784826802215
判型:B6
対象:専門
発行形態:単行本
内容:農林業
ページ数:169ページ
縦:19cm
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