X線分析の進歩〈37〉(X線工業分析〈第41集〉) [単行本]

X線分析の進歩〈37〉(X線工業分析〈第41集〉) の 商品概要

• 目次

  追悼　浅田榮一先生
  　　1.浅田先生の御業績
  　　　（長岡高専）加藤正直
  
  I.解説・総説
  　　2.ごみ焼却に伴うダイオキシン類生成における飛灰中銅の挙動
  　　　（京大院工）高岡昌輝
  　　3.2005年X線分析関連文献総合報告
  　　　河合　潤，桜井健次，辻　幸一，林　久史，松尾修司，森　良弘，渡部　孝
  
  II.報文：XRF
  　　4.散乱X線の理論強度を用いる蛍光X線分析
  　　　（島津総合分析試験セ）越智寛友，渡邊信次
  　　5.植物中の重金属の簡易蛍光X線分析
  　　　（兵庫県立大院工）小寺浩史，西岡　洋，村松康司
  　　6.微量重金属分析用蛍光X線分析装置の土壌環境評価への応用
  　　　（産総研地質情報研究部門，国土防災技術＊）丸茂克美，氏家　亨＊，小野木有佳，根本尚大，松野賢吉
  　　7.高感度蛍光X線分析法を用いた土壌中の有害重金属の分析
  　　　（X線技研＊，大阪電通大＊＊）村岡弘一＊，宇高　忠＊＊，谷口一雄＊,＊＊
  　　8.小型高電圧X線管を用いた環境試料中有害重金属カドミウムの分析
  　　　（大阪電通大，JASRI＊，徳島大総合科学＊＊）俣野有美，宇高　忠，二宮利男＊，野村惠章，一瀬悠里，沼子千弥＊＊，谷口一雄
  　　9.蛍光X線による銅合金中有害金属の迅速分析
  　　　（スペクトリス，古河電工＊）松田賢士，水平　学，山本信雄＊
  　　10.高感度点滴ろ紙と蛍光X線分析を用いた土壌溶出溶液の分析
  　　　（理学電機工業）森山孝男，東馬苗子，山田康治郎，河野久征
  　　11.ELV指令に対する銅合金中有害元素の蛍光X線分析
  　　　（理学電機工業，キッツメタルワークス＊）山田康治郎，小辻秀樹＊，閑歳浩平，森山孝男，山田　隆，河野久征
  　　12.炭素添加熱分解性窒化ホウ素の放射光軟X線状態分析
  　　　（兵庫県立大院工，GEスペシャルティ・マテリアルズ＊，LBNL＊＊）村松康司，藤井清利＊，J.D.Denlinger＊＊，E.M.Gullikson＊＊，R.C.C.Perera＊＊
  　　13.除電用小型X線管を用いた蛍光X線測定
  　　　（京大院工）河合　潤，松田亘司，林　豊秀
  　　14.市販Si-PINホトダイオードのX線検出器としての検討
  　　　（大阪電通大）田辺謙造，青山大督，小原一徳，谷口一雄
  　　15.日用品の蛍光X線分析
  　　　（京都工繊大繊維，京都工繊大環境科セ＊）山田　武，山田　悦＊
  
  III.報 文：XPS
  　　16.全反射X線光電子分光法によるWS2/C多層薄膜の解析
  　　　（日本電子）飯島善時，大濱敏之，田澤豊彦
  　　17.XPS法によるテトラアザ配位子を用いたp 電子雲拡張効果の電子状態分析
  　　　（福岡大理，福岡大高機能研＊）山重寿夫，井上芳樹，松尾修司＊，栗崎　敏，脇田久伸＊
  　　18.イオン散乱・光電子分光による6H-SiC清浄表面の構造解析
  　　　（立命館大理工，パリ第6・7大学 ナノサイエンス研＊）城戸義明，竹内史典，福山　亮，松原佑典，星野　靖＊
  
  IV.　報 文：X線回折・反射率
  　　19.試料水平型X線反射率測定装置への人工多層膜モノクロメータの適用
  　　　（学習院大理，立命館大放射光生命科学研セ†）矢野陽子†，飯島孝夫
  　　20.X線回折法における簡易定量プログラムの精度
  　　　（京都府中小企業技術セ）宮内宏哉，中村知彦，日置　正
  　　21.エネルギー分散型ポータブル粉末X線回折装置の開発とエジプトの遺跡発掘現場におけるその場分析
  　　　（東理大理，大阪電通大＊，早稲田大国際教養＊＊）熊谷和博，保倉明子，中井　泉，宇高　忠＊，谷口一雄＊，吉村作治＊＊
  
  V.報 文：SEM, EPMA, マイクロビームX線
  　　22.水素吸蔵合金のSEM-EDXによる元素分布分析
  　　　（京大院工）武田匡史，石井秀司，田邊晃生，河合　潤
  　　23.シリコンドリフト線検出器による走査電子顕微鏡でのSEM-EDX
  　　　（京大院工）石井秀司，河合　潤
  　　24.ポリキャピラリーX 線レンズの特性評価
  　　　（大阪市立大院工＊， 住友金属工業＊＊，PRESTO-JST＊＊＊）田中啓太＊，堤本　薫＊，荒井正浩＊＊，辻　幸一＊,＊＊＊
  　　25.放射光マイクロビームを用いたヒ素高集積植物モエジマシダの根における蛍光X線イメージングと蛍光XANES測定
  　　　（東理大理＊，フジタ＊＊，SPring-8・JASRI＊＊＊）北島信行＊,＊＊，小沼亮子＊，保倉明子＊，寺田靖子＊＊＊，中井　泉＊
  
  VI.報 文：XAFS
  　　26.Ga化合物の寿命幅フリー・価数選別XAFS
  　　　（東北大多元研＊，PRESTO-JST＊＊）林　久史＊,＊＊，佐藤　敦＊，宇田川康夫＊
  　　27.Ti添加 b - FeOOHさびのXAFS解析
  　　　（コベルコ科研，神戸製鋼材料研＊，大阪教育大理科教育＊＊）世木　隆，中山武典＊，石川達雄＊＊，稲葉雅之，渡部　孝
  　　28.三次元偏光光学系蛍光X線装置による大気浮遊粒子状物質の高感度組成分析とXANESによる硫黄の状態分析
  　　　（東理大理，スペクトリス＊）南齋雄一，保倉明子，松田賢士＊，水平　学＊，中井　泉
  
  VII.新刊紹介
  　　29.「蛍光X線分析の実際」
  　　　脇田久伸
  　　30.“X-Rays for Archaeology”，“Non-Destructive Examination of Cultural Objects－Recent Advances in X-Ray Analysis－（文化財の非破壊調査法－X線分析の最前線－）”
  　　　河合　潤
  　　31.“Non-Destructive Microanalysis of Cultural Heritage Materials”
  　　　河合　潤
  
  VIII.既掲載X線粉末回折図形索引　No.1（Vol.8）～No.10（Vol.18）（物質名と化学式名による）
  
  IX.2005年X線分析のあゆみ
  　　1.X線分析関係国内講演会開催状況
  　　2.X線分析研究懇談会講演会開催状況
  　　3.X線分析研究懇談会規約
  　　4.「X線分析の進歩」投稿の手引き
  　　5.（社）日本分析化学会X線分析研究懇談会2006年度運営委員名簿
  
  X.X線分析関連機器資料
  
  XI.既刊総目次
  
  XII.X線分析の進歩37　索引

• 内容紹介

  本書は昭和39年（1964年）に『Ｘ線工業分析』として発刊され、第5集から『Ｘ線分析の進歩』として毎年刊行されているものである。内容は、解説と報文、その年度におけるＸ線分析関係の論文・行事の紹介、機器についての資料集など。わが国における業界の年鑑といえるものである

X線分析の進歩〈37〉(X線工業分析〈第41集〉) の商品スペック