信頼性試験技術(信頼性技術叢書) [単行本]

信頼性試験技術(信頼性技術叢書) [単行本] の 商品概要

• 要旨（「BOOK」データベースより）

  本書は、信頼性・安全性トラブルの未然防止に役立つ、信頼性試験の最新の実践的な技術や理論について、多くの図表を用いてわかりやすく解説するものである。全９章で構成。第１章から第３章では、基本となる信頼性工学の知識や故障解析、信頼性データ解析について解説。また第４章で、信頼性試験の概要と全体像を紹介している。第５章から第７章では、信頼性試験技術特有の知識や技術である、加速試験、信頼性抜取試験、信頼性スクリーニングと信頼性成長試験についてそれぞれ解説。第８章は信頼性試験に関する最新の研究成果を紹介するもので、単行本で取り上げるのは本書が初となる内容である。信頼性試験において新しい問題に直面した場合に、数理的に解決を図るうえで参考となる。また、第９章に著者らの実務経験に基づいて整理した、信頼性試験を進める際の留意事項をまとめている。

• 目次（「BOOK」データベースより）

  第１章　信頼性の基礎
  第２章　故障物理モデルと故障解析
  第３章　信頼性データ解析の要点
  第４章　信頼性試験の概念と進め方
  第５章　加速試験
  第６章　信頼性抜取試験
  第７章　信頼性スクリーニングと信頼度成長試験
  第８章　信頼性試験のフロンティア
  第９章　信頼性試験運用上の留意点

• 出版社からのコメント

  信頼性試験技術について、信頼性の基礎から理論とノウハウ、最新情報や代表的な信頼性試験規格まで網羅した、実践をふまえた解説書。

• 内容紹介

  　本書は、信頼性・安全性トラブルの未然防止に役立つ、信頼性試験の最新の実践的な技術や理論について、多くの図表を用いてわかりやすく解説するものである。
  　第1章から第7章で、信頼性試験の前提となる知識や、基本の全体像、信頼性試験技術の各論を解説している。それに加えて、第8章「信頼性試験のフロンティア」として、最新の研究を取り上げている。また、第9章「信頼性試験運用上の留意点」として、信頼性試験を計画し、実施しようとする技術者が活用できる、著者らの実務経験から整理した留意点や避けるべき落とし穴などについて解説している。
  
  図書館選書
  本書は、新製品開発に役立つ信頼性試験技術について、信頼性の基礎から理論とノウハウ、最新情報や代表的な信頼性試験規格まで網羅した、初学者にもわかりやすい、実践をふまえた解説書である。

• 著者紹介（「BOOK著者紹介情報」より）（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）

  益田 昭彦(マスダ アキヒコ)
  １９４０年生まれ。電気通信大学大学院博士課程修了。工学博士。日本電気（株）にて通信装置の生産技術、品質管理、信頼性技術に従事（本社主席技師長）。帝京科学大学教授、同大学大学院主任教授、日本信頼性学会副会長、ＩＥＣ／ＴＣ５６信頼性国内専門委員会委員長などを歴任。現在、信頼性七つ道具（Ｒ７）実践工房代表、技術コンサルタント。工業標準化経済産業大臣表彰、日本品質管理学会品質技術賞、日本信頼性学会奨励賞、ＩＥＥＥ　Ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ　Ｊａｐａｎ　Ｃｈａｐｔｅｒ　Ａｗａｒｄ（２００７年信頼性技術功績賞）
  
  鈴木 和幸(スズキ カズユキ)
  １９５０年生まれ。東京工業大学大学院博士課程修了、工学博士。電気通信大学名誉教授、同大学大学院情報理工学研究科特任教授。Ｗｉｌｃｏｘｏｎ　Ａｗａｒｄ（米国品質学会、米国統計学会、１９９９年）、デミング賞本賞（２０１４年）
  
  原田 文明(ハラダ フミアキ)
  １９５４年生まれ。東京理科大学卒業。富士ゼロックス（株）で品質保証、試験法開発、信頼性管理などに従事。現在、Ｄ‐Ｔｅｃｈパートナーズ代表、東京理科大学非常勤講師、日科技連信頼性講座「信頼性試験」講師、ＩＥＣ　ＴＣ５６（ディペンダビリティ）専門委員、同国内委員会ＷＧ２（技法）主査
  
  山 悟(ヤマ サトル)
  １９４９年生まれ。国立旭川工業高等専門学校電気工学科卒。現在、日本科学技術連盟信頼性セミナー講師
  
  横川 慎二(ヨコガワ シンジ)
  １９７０年生まれ。電気通信大学大学院博士前期課程修了。現在、電気通信大学ｉ‐パワードエネルギー・システム研究センター、同大学大学院情報理工学研究科、同大学情報理工学域教授、博士（工学）。日経品質管理文献賞（日本品質管理学会編『新版　信頼性ハンドブック』（副編集委員長・分担執筆、２０１４年））、ＩＥＥＥ　Ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ　Ｓｏｃｉｅｔｙ　Ｊａｐａｎ　Ｃｈａｐｔｅｒ，２０１３　Ｂｅｓｔ　Ｐａｐｅｒ　Ａｗａｒｄなど

• 著者について

  益田　昭彦 (マスダ　アキヒコ)
  益田昭彦
  1940年生まれ。
  電気通信大学大学院博士課程 修了。工学博士。
  日本電気（株）にて通信装置の生産技術、品質管理、信頼性技術に従事（本社主席技師長）。帝京科学大学教授、同大学大学院主任教授、日本信頼性学会副会長、IEC/TC56信頼性国内専門委員会委員長などを歴任。
  現在、信頼性七つ道具（R7）実践工房 代表、技術コンサルタント。
  
  鈴木　和幸 (スズキ　カズユキ)
  鈴木和幸
  1950年生まれ。
  東京工業大学大学院博士課程 修了。工学博士。
  電気通信大学 名誉教授、同大学大学院情報理工学研究科 特任教授。
  
  原田　文明 (ハラダ　フミアキ)
  原田文明
  1954年生まれ。
  東京理科大学卒業。
  富士ゼロックス（株）で品質保証、試験法開発、信頼性管理などに従事。
  現在、D-Techパートナーズ代表、東京理科大学非常勤講師、日科技連信頼性講座「信頼性試験」講師、IEC TC56（ディペンダビリティ）専門委員、同国内委員会WG2（技法）主査。
  
  山　悟 (ヤマ　サトル)
  山悟
  1949年生まれ。
  国立旭川工業高等専門学校電気工学科卒。
  現在、日本科学技術連盟信頼性セミナー講師。
  
  横川　慎二 (ヨコガワ　シンジ)
  横川慎二
  1970年生まれ。
  電気通信大学大学院博士前期課程修了。
  現在、電気通信大学 i-パワードエネルギー・システム研究センター、同大学大学院情報理工学研究科、同大学情報理工学域 教授、博士（工学）。

信頼性試験技術(信頼性技術叢書) [単行本] の商品スペック