実践!電子機器・部品の信頼性評価・解析ガイドブック〈Part4〉電子回路の品質作り込みとノイズ・熱トラブル解決への道筋 [単行本]

実践!電子機器・部品の信頼性評価・解析ガイドブック〈Part4〉電子回路の品質作り込みとノイズ・熱トラブル解決への道筋 の 商品概要

• 目次（「BOOK」データベースより）

  第１章　商品開発ステップ毎の製品品質の作り込み（トータル品質作りの実現手順；仕様　ほか）
  第２章　効果的な品質評価試験方法（様々な評価方法；部品情報の把握　ほか）
  第３章　深刻な誤動作や故障の発生原因と対策（熱対策；電子回路ノイズと対策　ほか）
  第４章　品質評価の相談と障害対策事例（エレベーター制御基板のＥＯＬ対応；屋外設置製品の提案と耐久性評価　ほか）
  付録（第２章の補項目）（ＳｉＣ　ＭＯＳＦＥＴのＡＣ‐ＢＴＩ試験）

• 内容紹介

  信頼性評価・解析は、部品調達、開発・設計、製品保証の各開発段階でそれぞれ行われる製品の品質を保障する重要な技術。最近では、自動運転などの自動制御や、IoTなどの高度な情報分析にかかわる技術の重要性はさらに高まっている。にもかかわらず、信頼性試験を怠ったり、間違った信頼性評価を行うことで、それが故障やリコールにつながる事件が目に付く。本書では、電子機器・部品における様々な評価・解析について、経験の少ない技術者、担当者でも最適な評価を得られるように導く入門書の第4弾。Part4では、故障のメカニズムを中心とした信頼性評価に加え、電子機器や部品において最も信頼性や故障に関わるノイズ・熱対策技術については基礎から丁寧に解説。さらに今注目のパワーデバイス（AC-BTI試験）などの情報も付録で紹介。基礎から最新の対策まで幅広いニーズに応える内容となっている。

• 著者紹介（「BOOK著者紹介情報」より）（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）

  今井 康雄(イマイ ヤスオ)
  １９７８年に沖エンジニアリング株式会社　入社。２０２１年取締役を退任、シニアアドバイザーとなり、現在に至る。２０１０年度日本信頼性学会　優秀記事コラム賞「電子デバイス・モジュールの最新評価技術」。２０１４年度日本信頼性学会　優秀論文賞「不揮発性メモリの信頼性評価」
  
  多田 雅則(タダ マサノリ)
  １９９７年に沖エンジニアリング株式会社　入社。入社後、計測器の校正業務に従事。直流・交流計測器（デジタルマルチメータ、抵抗計、電力計）、温度計測器（データロガ、恒温槽）、安全関連計測器（耐電圧計、絶縁抵抗計、漏れ電流計）など。その後ＥＭＣ試験業務に従事。マルチメディア機器・医療機器・車載機器など各カテゴリのＥＭＣ試験ならびに製品安全試験について従事、社内技術主査としてＥＭＣ試験所の認定取得・維持業務について従事し、現在に至る
  
  芥 正二郎(アクタ マサジロウ)
  １９７２年早稲田大学卒。２０１５年より、プラスワンソリューションを設立。製品品質に関連する各種コンサルタントサービスを開始し、現在に至る

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