誘導結合プラズマ質量分析法　原書4版－装置の基礎から測定法・メンテナンスまで [単行本]

誘導結合プラズマ質量分析法　原書4版－装置の基礎から測定法・メンテナンスまで の 商品概要

• 目次

  1　ICP質量分析法の概要
  
  1.1　動作原理
  
  
  2　イオン生成の原理
  
  2.1　イオン生成
  2.2　天然同位体
  
  
  3　試料導入
  
  3.1　エアロゾル生成
  3.2　液滴の粒径選別
  3.3　ネブライザー
  3.4　同軸型ネブライザー
  3.5　クロスフロー型ネブライザー
  3.6　微小流量ネブライザー
  3.7　スプレーチャンバー
  3.8　ダブルパス型スプレーチャンバー
  3.9　サイクロン型スプレーチャンバー
  3.10　エアロゾル希釈
  3.11　結　語
  
  
  4　プラズマ源
  
  4.1　プラズマトーチ
  4.2　誘導結合プラズマの形成
  4.3　高周波発生器の機能
  4.4　試料のイオン化
  
  
  5　インターフェース領域
  
  5.1　容量結合
  5.2　イオン運動エネルギー
  5.3　適切に設計されたインターフェースの利点
  5.4　結　語
  
  
  6　イオン集束システム
  
  6.1　イオン光学系の役割
  6.2　イオン流の力学
  6.3　商業用イオン光学系
  
  
  7　質量分離部：四重極技術
  
  7.1　動作の基本原理
  7.2　四重極の性能評価基準
  7.3　分解度
  7.4　アバンダンス感度
  7.5　アバンダンス感度の重要性
  
  
  8　質量分離部：二重収束磁場型技術
  
  8.1　磁場型質量分析法：歴史的観点
  8.2　誘導結合プラズマ質量分析法における磁場型技術の利用
  8.3　磁場型技術の動作原理
  8.4　分解能
  8.5　磁場型質量分析計のその他の利点
  8.6　一つの検出器を使用した同時測定アプローチ
  8.7　結　語
  
  
  9　質量分離部：飛行時間技術
  
  9.1　飛行時間技術の基本原理
  9.2　市販装置の構成
  9.3　直交式と同軸式飛行時間型質量分析計の違い
  9.4　誘導結合プラズマ質量分析法における飛行時間技術の利点
  9.5　高速過渡ピーク分析
  9.6　精度の向上
  9.7　迅速なデータ取得
  9.8　レーザーアブレーションと飛行時間型誘導結合プラズマ質量分析法を組み合わせた高速多元素イメージング
  9.9　レーザーアブレーションレーザーイオン化飛行時間型質量分析
  9.10　結　語
  
  
  10　質量分析計：コリジョン/リアクションセルおよびインターフェース技術
  
  10.1　コリジョン/リアクションセルの基本原理
  10.2　コリジョン/リアクションセルのアプローチ
  10.3　不活性ガスと運動エネルギー弁別効果を利用した衝突機構
  10.4　高反応性ガスの反応機構と選択的バンドパスフィルターによる弁別
  10.5　ダイナミックリアクションセル
  10.6　低質量イオンカットオフコリジョン/リアクションセル
  10.7　コリジョンセルにおける反応機構の利用
  10.8　ユニバーサルセル
  10.9　コリジョン/リアクションインターフェース
  10.10　シングル四重極コリジョン/リアクションセル装置の検出限界比較
  10.11　“トリプル四重極”装置
  10.12　シングルマスモード
  10.13　タンデムマス（MS/MS）モード
  10.14　オンマスMS/MSモード
  10.15　マスシフトMS/MSモード
  10.16　マルチ四重極システム
  10.17　トリプル四重極とマルチ四重極の違い
  10.18　結　語
  
  
  11　イオン検出器
  
  11.1　チャネル電子増倍管
  11.2　ファラデーカップ
  11.3　ディスクリートダイノード電子増倍管
  11.4　ダイナミックレンジの拡大
  11.5　イオンビームのフィルタリング
  11.6　二つの検出器を使用する
  11.7　一つの検出器で二つのスキャンを使用する
  11.8　1回のスキャンを一つの検出器で使用する
  11.9　パルス検出モードだけを使用したダイナミックレンジの拡張
  11.10　同時アレイ検出器
  
  
  12　ピーク測定プロトコル
  
  12.1　測定変数
  12.2　測定手順
  12.3　測定手順の最適化
  12.4　多元素データ品質目標
  12.5　単一粒子ICP-MS研究におけるデータ品質目標
  12.6　結　語
  
  
  13　定量法
  
  13.1　定量分析
  13.2　外部標準法
  13.3　標準添加法
  13.4　添加校正法
  13.5　半定量分析
  13.6　同位体希釈法
  13.7　同位体比分析
  13.8　内部標準法
  
  
  14　誘導結合プラズマ質量分析法における干渉の種類と補正法
  
  14.1　スペクトル干渉
  14.2　酸化物，水酸化物，水素化物および二価イオン
  14.3　同重体干渉
  14.4　スペクトル干渉を補正する方法
  14.5　数学的補正式
  14.6　低温/クールプラズマ技術
  14.7　コリジョン/リアクションセル
  14.8　高分解能質量分析計
  14.9　マトリックス干渉
  14.10　内部標準法を用いた補正
  14.11　空間電荷効果の補正
  
  
  15　日常メンテナンス
  
  15.1　試料導入系
  15.2　ペリスタルティックポンプチューブ
  15.3　ネブライザー
  15.4　スプレーチャンバー
  15.5　プラズマトーチ
  15.6　インターフェース領域
  15.7　イオン光学系
  15.8　粗引きポンプ
  15.9　エアフィルター
  15.10　その他の定期的に点検すべき部品
  15.11　検出器
  15.12　ターボ分子ポンプ
  15.13　質量分離部およびコリジョン/リアクションセル
  15.14　結　語
  
  
  16　サンプリングと試料前処理技術
  
  16.1　試料の収集
  16.2　試料の前処理
  16.3　低温粉砕
  16.4　試料溶解
  16.5　試料溶解の必要性
  16.6　分解試料の重量
  16.7　マイクロ波分解の検討
  16.8　なぜマイクロ波分解を使用するのか？
  16.9　酸の選択
  16.10　商業用マイクロ波装置
  16.11　分解戦略
  16.12　マイクロ波分解技術の基本原理
  16.13　シーケンシャル型
  16.14　ローターベース型
  16.15　シングル・リアクション・チャンバー型
  16.16　シングルキャビティモード型
  16.17　シングルキャビティモードの原理
  16.18　シングルキャビティモードによる自動化
  16.19　水銀のサンプリング手順
  16.20　試薬ブランク
  16.21　結　語
  
  
  17　プラズマ分光分析における誤差と汚染の低減に関する実践ガイド
  
  17.1　データの正確さと精度
  17.2　誤差の推定
  17.3　誤差の種類
  17.4　標準物質
  17.5　標準物質の使用
  17.6　検量線
  17.7　ダイナミックレンジ・濃度・誤差
  17.8　ラボにおける誤差と汚染の原因
  17.9　ラボの汚染源と誤差
  17.10　水　質
  17.11　試　薬
  17.12　ラボの環境および人員
  17.13　一般原則および実践
  
  
  18　パフォーマンスと生産性の向上技術
  
  18.1　パフォーマンス向上技術：レーザーアブレーション
  18.2　誘導結合プラズマ質量分析用商用レーザーアブレーションシステム
  18.3　エキシマレーザー
  18.4　誘導結合プラズマ質量分析法におけるレーザーアブレーションの利点
  18.5　アプリケーションの要件に基づく最適なレーザー設計
  18.6　193 nmレーザー技術
  18.7　フローインジェクション分析
  18.8　電気加熱気化
  18.9　冷却スプレーチャンバーおよび脱溶媒装置
  18.10　水冷およびペルチェ冷却スプレーチャンバー
  18.11　超音波ネブライザー
  18.12　脱溶媒技術を用いた特殊な微小流量ネブライザー
  18.13　直接導入ネブライザー
  18.14　生産性向上技術
  18.15　分析時間の短縮
  18.16　自動インライン自動希釈および自動校正
  18.17　試料の識別と追跡の自動化
  
  
  19　化学形態別分析のためのクロマトグラフィー分離技術と誘導結合プラズマ質量分析法の結合
  
  19.1　高速液体クロマトグラフィーと誘導結合プラズマ質量分析法の組合せ
  19.2　クロマトグラフィーによる分離の要件
  19.3　イオン交換クロマトグラフィー
  19.4　逆相イオンペアクロマトグラフィー
  19.5　カラム固定相の材質
  19.6　アイソクラティックまたはグラジエント溶出
  19.7　試料導入要件
  19.8　誘導結合プラズマ質量分析装置パラメータの最適化
  19.9　有機溶媒との適合性
  19.10　コリジョン/リアクションセルまたはインターフェース機能
  19.11　ピーク測定プロトコルの最適化
  19.12　ソフトウェアによる完全な制御と統合
  19.13　結　語
  
  
  20　誘導結合プラズマ質量分析装置アプリケーションの概要
  
  20.1　アプリケーションの機能
  20.2　分析上の課題
  20.3　おもな動向
  20.4　誘導結合プラズマ質量分析装置開発の原動力は何か？
  20.5　今後の方向性
  
  
  21　原子吸光分光法および原子蛍光分光法の基礎原理と応用
  
  21.1　フレーム原子吸光分光法
  21.2　フレーム原子吸光分光法の利点
  21.3　フレーム原子吸光分光法における干渉とその制御
  21.4　フレーム原子吸光分光法の欠点
  21.5　黒鉛炉原子吸光分光法
  21.6　黒鉛炉原子吸光分光法の干渉とその制御
  21.7　黒鉛炉原子吸光分光法の利点
  21.8　黒鉛炉原子吸光分光法の欠点
  21.9　蒸気発生原子吸光分光法
  21.10　冷蒸気原子吸光分光法の利点
  21.11　冷蒸気原子吸光分光法の欠点
  21.12　水素化物発生原子吸光分光法
  21.13　水素化物発生原子吸光分光法の利点
  21.14　水素化物発生原子吸光分光法の欠点
  21.15　複合技術
  21.16　原子蛍光分光法
  21.17　原子蛍光分光法の利点と欠点
  21.18　結　語
  
  
  22　誘導結合プラズマ発光分光分析法の基本原理，分析法開発，測定条件
  
  22.1　基本用語の定義
  22.2　発光の原理
  22.3　原子およびイオンの発光
  22.4　装　置
  22.5　試料導入
  22.6　エアロゾルの生成
  22.7　ネブライザー
  22.8　スプレーチャンバー
  22.9　トーチ
  22.10　分光計
  22.11　集光系
  22.12　光学系
  22.13　検出器
  22.14　歴史的な観点
  22.15　光電子増倍管
  22.16　フォトダイオードアレイ
  22.17　電荷転送素子
  22.18　電荷結合素子
  22.19　電荷注入素子
  22.20　分析性能
  22.21　環境条件
  22.22　排気要件
  22.23　電気的要件
  22.24　温度および圧力要件
  22.25　メンテナンス
  22.26　プラズマ動作条件
  22.27　RF出力
  22.28　プラズマガス
  22.29　ポンプの設定
  22.30　プラズマ測光高さ
  22.31　精度と正確さ
  22.32　検出限界
  22.33　定量限界
  22.34　バックグラウンド等価濃度
  22.35　感　度
  22.36　分析方法開発の考慮事項
  22.37　分析波長の選択
  22.38　干　渉
  22.39　物理干渉
  22.40　化学干渉
  22.41　スペクトル干渉
  22.42　データ取得
  22.43　分析法バリデーション
  22.44　結　語
  
  
  23　その他の補完的な原子分光法
  
  23.1　蛍光X線分析法
  23.2　蛍光X線分析法の装置構成
  23.3　蛍光X線分析法による定量
  23.4　蛍光X線分析法の検出限界
  23.5　蛍光X線分析法のための試料前処理
  23.6　X線回折
  23.7　レーザー誘起ブレークダウン分光法
  23.8　レーザー誘起ブレークダウン分光法の基本原理
  23.9　レーザー誘起ブレークダウン分光法の機能
  23.10　レーザー誘起ブレークダウン分光法の応用分野
  23.11　レーザー誘起ブレークダウン分光法の検出能力
  23.12　火星探査用レーザー誘起ブレークダウン分光法
  23.13　マイクロ波誘導プラズマ発光分光分析法
  23.14　マイクロ波誘導プラズマ発光分光分析技術の基本原理
  23.15　マイクロ波誘導プラズマ発光分光分析法の利点
  23.16　マイクロ波誘導プラズマ発光分光分析法の典型的な応用
  23.17　レーザーアブレーションレーザーイオン化飛行時間型質量分析法
  23.18　Massbox
  23.19　レーザーアブレーションレーザーイオン化飛行時間型質量分析法の基本原理
  23.20　マトリックス効果
  23.21　拡散と輸送
  23.22　干　渉
  23.23　透過効率
  23.24　無機および有機分析
  23.25　運　用
  23.26　ユーザーインターフェース
  23.27　性　能
  23.28　結　語
  
  
  24　一般的な原子スペクトル分析法の性能特性
  
  24.1　フレーム原子吸光分光法
  24.2　電気加熱原子吸光分光法
  24.3　水素化物/蒸気発生原子吸光分光法
  24.4　原子蛍光分光法
  24.5　横方向観測誘導結合プラズマ発光分光分析法
  24.6　軸方向観測誘導結合プラズマ発光分光分析法
  24.7　誘導結合プラズマ質量分析法
  24.8　比較の要点
  
  
  25　一般的な原子スペクトル装置のランニングコスト
  
  25.1　ガ　ス
  25.2　電　気
  25.3　消耗品
  25.4　試料あたりのコスト
  25.5　原子蛍光分光装置のランニングコスト
  25.6　結　語
  
  
  26　誘導結合プラズマ質量分析装置の評価方法：分析における重要な考慮事項
  
  26.1　評価の目標
  　26.1.1　分析性能
  　26.1.2　操作性の観点
  　26.1.3　信頼性の問題
  26.2　財務上の考慮事項
  26.3　評価プロセス：まとめ
  
  
  27　原子分光学関連の用語集
  
  誘導結合プラズマ質量分析法（ICP-MS）用語解説
  誘導結合プラズマ発光分光分析法（ICP-OES）用語解説
  原子吸光分光法（AAS）および原子蛍光分光法（AFS）用語解説
  その他の原子分光法（AS）用語解説
  
  
  28　役立つ連絡先の情報

• 出版社からのコメント

  誘導結合プラズマ質量分析法の基礎から測定・分析までわかりやすく解説した専門書

• 内容紹介

  環境，地質学，半導体，生物医学，食品，原子力，医薬品等の分野における微量元素分析に用いられる誘導結合プラズマ質量分析法（ICP-MS）について，その原理から装置の基本構成，測定法・メンテナンスまでをわかりやすく解説した専門書．ICP-MSについてより深く学びたい研究者やICP-MS装置をルーチン分析に使用している実務者に最適．
  
  ICP-MSを補完する他の原子分光法や，ICP-MSとその他の微量元素分析技術との比較を取り上げた21～25章はWeb補遺として掲載．

誘導結合プラズマ質量分析法　原書4版－装置の基礎から測定法・メンテナンスまで の商品スペック